Products
品牌：尊龍凱時/是德（安捷倫）
============================
尊龍凱時
本司現(xiàn)貨儲備，價格優(yōu)惠，品質(zhì)保證
咨詢熱線：138-2374-5282（vx同號）
網(wǎng)址：http://www.meigaolan.com/
地址：深圳市寶安三區(qū)龍井路1號東江豪苑32A1B1
============================
尊龍凱時 N5245B 是是德科技 PNA-X 系列 中的旗艦級多功能微波網(wǎng)絡(luò)分析儀。它不僅僅是傳統(tǒng)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA），更是一個高度集成的微波測試平臺。其設(shè)計理念是：將多種測試功能（矢量網(wǎng)絡(luò)分析、噪聲系數(shù)測試、脈沖測試、非線性測試等）集成于一臺主機(jī)之內(nèi)，通過一次連接即可完成極其復(fù)雜的測量，徹底改變了工程師在研發(fā)和驗證高性能元器件時頻繁更換測試系統(tǒng)的傳統(tǒng)方式。
N5245B 通常提供 2端口或4端口 配置，最大頻率范圍可達(dá) 10 MHz 至 50 GHz，尊龍凱時是應(yīng)對最新無線通信、航空航天與國防、半導(dǎo)體技術(shù)挑戰(zhàn)的終極工具。
All-in-One 一體化測試平臺
核心優(yōu)勢：這是 PNA-X 與普通 PNA 或 ENA 最大的區(qū)別。它集成了以下功能，無需外部開關(guān)矩陣即可自動切換測試模式：
矢量網(wǎng)絡(luò)分析 (S參數(shù))：基礎(chǔ)且精度極高的測量。
噪聲系數(shù)分析（需選件）：內(nèi)置噪聲源，可精確測量放大器、變頻器等器件的噪聲系數(shù)和增益。
脈沖射頻測試：內(nèi)置脈沖調(diào)制器和發(fā)生器，可直接進(jìn)行高精度脈沖 S參數(shù)測試，尊龍凱時是雷達(dá)T/R組件測試的理想選擇。
非線性和諧波測試：通過內(nèi)置的第二個信號源，輕松進(jìn)行增益壓縮、三階交調(diào)（TOI）、諧波失真測量。
變頻器件測試（混頻器）：可全面表征混頻器的變頻損耗、壓縮、群延時和隔離度。
卓越的硬件性能
頻率范圍：10 MHz 至 50 GHz（可通過外部諧波混頻器擴(kuò)展至 1.1 THz）。
動態(tài)范圍：> 125 dB（典型值，@ 50 GHz），能夠精確測量極高隔離度或極高損耗的器件。
輸出功率：源功率高（典型值 > +13 dBm），且功率掃描范圍寬，便于進(jìn)行大功率放大器壓縮測試。
軌跡噪聲：極低的軌跡噪聲，保證了測量結(jié)果的精確性和可重復(fù)性，尤其是在測量高回波損耗器件時。
強(qiáng)大的多端口能力
支持 4端口 配置，能夠輕松表征平衡/差分器件（如差分放大器）、雙工器、多路復(fù)用器和開關(guān)矩陣，無需手動切換電纜，大大提高了測試效率和可靠性。
先進(jìn)的校準(zhǔn)與軟件功能
支持全套校準(zhǔn) kits：SOLT, TRL, LRM, 以及使用是德科技電子校準(zhǔn)件（ECal）進(jìn)行快速全自動校準(zhǔn)。
時域分析：內(nèi)置低通和帶通模式，用于故障點定位（Distance-to-Fault, DTF）和器件調(diào)試。
豐富的應(yīng)用軟件：提供針對放大器、混頻器、濾波器、相位噪聲等應(yīng)用的專用測試軟件，簡化設(shè)置流程。
N5245B 因其多功能和高性能，被廣泛應(yīng)用于前沿科技的研發(fā)和高可靠性制造領(lǐng)域：
航空航天與國防：
雷達(dá)系統(tǒng)組件（T/R模塊、天線、延遲線）
電子戰(zhàn)（EW）系統(tǒng)組件
衛(wèi)星通信有效載荷
無線通信（5G/6G及毫米波）：
5G基站功率放大器（PA）、低噪聲放大器（LNA）、濾波器、雙工器
毫米波集成電路（RFIC/MMIC）的全面特性分析
半導(dǎo)體與器件建模：
GaN, GaAs, SiGe 等工藝制造的有源/無源器件測試和模型驗證。
科研與高端制造：
大學(xué)和研究機(jī)構(gòu)的先進(jìn)項目。
對精度和可靠性要求極高的自動化生產(chǎn)測試線。
| 指標(biāo)項目 | N5245詳細(xì)說明 |
|---|---|
| 頻率范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：10 MHz 至 50 GHz • 可通過外部諧波混頻器（如 N5291A）擴(kuò)展至 1.1 THz 甚至更高。 |
| 測量端口 | • 提供 2端口 或 4端口 主機(jī)配置。 • 所有端口均具備源和接收機(jī)。 |
| 動態(tài)范圍 | • ** > 125 dB** （典型值，在 50 GHz 時） • 此指標(biāo)衡量測量最大信號與最小噪聲 floor 的能力，對高隔離度器件測試至關(guān)重要。 |
| 輸出功率 | • ** > +13 dBm** （典型值，在 50 GHz 時） • 功率掃描范圍寬，允許在低功率水平下測量噪聲系數(shù)，在高功率水平下進(jìn)行壓縮測試。 |
| 軌跡噪聲 | • ** < 0.005 dB rms** （典型值，在 10 Hz IFBW，測試 0 dB 傳輸時） • 極低的軌跡噪聲確保了高精度測量，尤其是在測量高回波損耗（良好匹配）的器件時。 |
| 阻抗匹配 | • 源匹配：< -30 dB （電子校準(zhǔn)后） • 負(fù)載匹配：< -30 dB （電子校準(zhǔn)后） • 優(yōu)異的端口匹配減少了測量不確定性。 |
| S參數(shù)測試速度 | • 最快 ~ 25 μs/點 （在 10 Hz 中頻帶寬下） • 高速測量對于生產(chǎn)環(huán)境和大量數(shù)據(jù)采集非常重要。 |
網(wǎng)絡(luò)分析儀
網(wǎng)絡(luò)分析儀
網(wǎng)絡(luò)分析儀
網(wǎng)絡(luò)分析儀
網(wǎng)絡(luò)分析儀
網(wǎng)絡(luò)分析儀
+86-0755-2788 3980
+86-135 3992 6881
+86-138 2374 5282
xtrdong@sina.com
